发明名称 | 多路热敏电阻老化及热时间常数测试装置 | ||
摘要 | 本实用新型公开了多路热敏电阻老化及热时间常数测试装置,包括高温水槽机构、低温水槽机构、样品位置切换机构、自动给水单元和测量及控制单元,两水槽机构之间设有样品位置切换机构,两水槽机构分别连接一自动给水单元,测量及控制单元电连接样品。本实用新型可保证恒温的测试环境,实现自动水位补给和样品位置切换,最终对数据作数字化处理,实现热敏电阻老化及热时间常数的全自动化测试,解决了现有测试设备存在的温场不均匀、温度不可调、测量数据不准确、效率低的问题,适用于对大批量生产的热敏电阻进行实时监控测试或者抽样测试。 | ||
申请公布号 | CN202383215U | 申请公布日期 | 2012.08.15 |
申请号 | CN201120524891.2 | 申请日期 | 2011.12.14 |
申请人 | 华中科技大学 | 发明人 | 黎步银;刘明;胡宾鑫;戴世龙;黄龙 |
分类号 | G01R31/00(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/00(2006.01)I |
代理机构 | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人 | 李智 |
主权项 | 多路热敏电阻老化及热时间常数测试装置,包括高温水槽机构、低温水槽机构、样品位置切换机构、自动给水单元和测量及控制单元,两水槽机构之间设有样品位置切换机构,两水槽机构分别连接一自动给水单元,测量及控制单元电连接样品。 | ||
地址 | 430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号 |