发明名称 多路热敏电阻老化及热时间常数测试装置
摘要 本实用新型公开了多路热敏电阻老化及热时间常数测试装置,包括高温水槽机构、低温水槽机构、样品位置切换机构、自动给水单元和测量及控制单元,两水槽机构之间设有样品位置切换机构,两水槽机构分别连接一自动给水单元,测量及控制单元电连接样品。本实用新型可保证恒温的测试环境,实现自动水位补给和样品位置切换,最终对数据作数字化处理,实现热敏电阻老化及热时间常数的全自动化测试,解决了现有测试设备存在的温场不均匀、温度不可调、测量数据不准确、效率低的问题,适用于对大批量生产的热敏电阻进行实时监控测试或者抽样测试。
申请公布号 CN202383215U 申请公布日期 2012.08.15
申请号 CN201120524891.2 申请日期 2011.12.14
申请人 华中科技大学 发明人 黎步银;刘明;胡宾鑫;戴世龙;黄龙
分类号 G01R31/00(2006.01)I 主分类号 G01R31/00(2006.01)I
代理机构 华中科技大学专利中心 42201 代理人 李智
主权项 多路热敏电阻老化及热时间常数测试装置,包括高温水槽机构、低温水槽机构、样品位置切换机构、自动给水单元和测量及控制单元,两水槽机构之间设有样品位置切换机构,两水槽机构分别连接一自动给水单元,测量及控制单元电连接样品。
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