发明名称 |
多层金属-多层绝缘体-金属电容器的制作方法 |
摘要 |
本发明公开一种多层金属-多层绝缘体-金属电容器的制作方法,在硅衬底上进行,包括循环执行如下步骤:步骤1,制作多层绝缘体,所述多层绝缘体包括若干层高K值氧化硅薄膜,两相邻高K值氧化硅之间夹有一层高K值氮化硅薄膜;步骤2,刻蚀去除部分所述多层绝缘体;步骤3,沉淀低k值介质层覆盖所述步骤2中剩余的部分所述多层绝缘体;步骤4,化学机械研磨所述低k值介质层上表面;步骤5,在位于所述多层绝缘体竖直上方的低k值介质层中制作通孔,所述通孔底端接触所述多层绝缘体的上表面,在所述低k值介质层与所述多层绝缘体在竖直方向上无重叠的区域制作金属槽;步骤6,在所述通孔和金属槽中填充金属后进行化学机械研磨。以改善电容器性能。 |
申请公布号 |
CN102637599A |
申请公布日期 |
2012.08.15 |
申请号 |
CN201210116160.3 |
申请日期 |
2012.04.20 |
申请人 |
上海华力微电子有限公司 |
发明人 |
毛智彪;胡友存;徐强 |
分类号 |
H01L21/334(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/334(2006.01)I |
代理机构 |
上海新天专利代理有限公司 31213 |
代理人 |
王敏杰 |
主权项 |
一种多层金属‑多层绝缘体‑金属电容器的制作方法,在硅衬底上进行,其特征在于,包括循环执行如下步骤:步骤1,制作多层绝缘体,所述多层绝缘体包括若干层高K值氧化硅薄膜,两相邻高K值氧化硅薄膜之间夹有一层高K值氮化硅薄膜;步骤2,刻蚀去除部分所述多层绝缘体;步骤3,沉淀低k值介质层覆盖所述步骤2中剩余的部分所述多层绝缘体;步骤4,化学机械研磨所述低k值介质层上表面;步骤5,在位于所述多层绝缘体竖直上方的低k值介质层中制作通孔,所述通孔底端接触所述多层绝缘体的上表面,在所述低k值介质层与所述多层绝缘体在竖直方向上无重叠的区域制作金属槽;步骤6,在所述通孔和金属槽中填充金属后进行化学机械研磨。 |
地址 |
201210 上海市浦东新区张江高科技园区高斯路568号 |