发明名称 |
半导体结构及其制备方法 |
摘要 |
半导体结构及其制备方法,属于半导体器件领域,包括:具有第一半导体类型的半导体衬底;覆盖半导体衬底表面的外延层;位于外延层内的具有第二半导体类型的第一扩散区;在第一扩散区表面的氧化层,且其表面与外延层表面基本持平;位于外延层表面的多晶硅层,且覆盖部分氧化层表面、部分外延层表面及暴露出的所述第一扩散区表面;以及位于暴露出的氧化层表面、暴露出的外延层表面与多晶硅层表面的绝缘层。通过使用RESURF技术,在半导体结构中设置低掺杂的第一掺杂区,当PN结反偏时,RESURF技术使PN结能均匀承压。此外,较厚的氧化层也能有效提高PN结的击穿电压。同时,本发明中提出的半导体结构,结构简单,工艺简便。 |
申请公布号 |
CN102637719A |
申请公布日期 |
2012.08.15 |
申请号 |
CN201110035570.0 |
申请日期 |
2011.02.10 |
申请人 |
上海宏力半导体制造有限公司 |
发明人 |
王颢;克里斯;吴小利 |
分类号 |
H01L29/06(2006.01)I;H01L21/02(2006.01)I |
主分类号 |
H01L29/06(2006.01)I |
代理机构 |
上海智信专利代理有限公司 31002 |
代理人 |
王洁 |
主权项 |
一种半导体结构,包括:半导体衬底,具有第一半导体类型掺杂;第一半导体类型掺杂的外延层,位于所述半导体衬底表面;其特征在于,还包括:第一扩散区,具有第二半导体类型掺杂,位于所述外延层内;氧化层,位于在所述第一扩散区内,且其表面与所述外延层表面基本持平;多晶硅层,覆盖部分所述氧化层表面、部分所述外延层表面及暴露出的所述第一扩散区表面;以及绝缘层,覆盖暴露出的所述氧化层表面、暴露出的所述外延层表面与所述多晶硅层表面。 |
地址 |
201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号 |