| 发明名称 | 用于掠入射XAFS方法的样品台 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种用于掠入射XAFS方法的样品台，包括由上至下依次连接的样品支架、第一角位台、第二角位台、旋转台、升降台和平移台，所述旋转台和平移台分别由与一控制系统相连的电机控制，所述旋转台和所述平移台上分别设有与所述控制系统相连的光栅尺。本发明用于掠入射XAFS方法的样品台，对样品的旋转角度和平移位置实现闭环控制，进而精确调整X射线的穿透深度，提高了表面及薄膜样品掠入射XAFS谱的采集信噪比。 | ||
| 申请公布号 | CN102636508A | 申请公布日期 | 2012.08.15 |
| 申请号 | CN201210074161.6 | 申请日期 | 2012.03.20 |
| 申请人 | 中国科学院上海应用物理研究所 | 发明人 | 魏向军;李丽娜;于海生;黄宇营;姜政;高倩 |
| 分类号 | G01N23/223(2006.01)I | 主分类号 | G01N23/223(2006.01)I |
| 代理机构 | 上海智信专利代理有限公司 31002 | 代理人 | 邓琪 |
| 主权项 | 一种用于掠入射XAFS方法的样品台，包括由上至下依次连接的样品支架、第一角位台、第二角位台、旋转台、升降台和平移台，所述旋转台和平移台分别由与一控制系统相连的电机控制，其特征在于，所述旋转台和所述平移台上分别设有与所述控制系统相连的光栅尺。 | ||
| 地址 | 201800 上海市嘉定区嘉罗公路2019号 | ||