| 发明名称 | 芯片的电源完整性的仿真方法和系统 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种芯片的电源完整性的仿真方法和系统，所述方法，包括：获取芯片与印刷电路板的电源平面的第一连接点以及所述第一连接点在所述印刷电路板的地平面对应的第二连接点；仿真所述芯片在一负载变化频率时每个第二连接点的电位信息；以所述第一连接点的地电位为对应的第二连接点仿真得到的电位信息，仿真在同一负载变化频率下所述芯片的电源完整性信息。 | ||
| 申请公布号 | CN102129496B | 申请公布日期 | 2012.08.15 |
| 申请号 | CN201110057707.2 | 申请日期 | 2011.03.10 |
| 申请人 | 浪潮（北京）电子信息产业有限公司 | 发明人 | 鞠华方;刘鹏 |
| 分类号 | G06F17/50(2006.01)I | 主分类号 | G06F17/50(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人 | 栗若木;王漪 |
| 主权项 | 一种芯片的电源完整性的仿真方法，其特征在于，包括：获取芯片与印刷电路板的电源平面的第一连接点以及所述第一连接点在所述印刷电路板的地平面对应的第二连接点；仿真所述芯片在一负载变化频率时每个第二连接点的电位信息；在零电位位置相同、仿真环境一致的情况下，以所述第一连接点的地电位为对应的第二连接点仿真得到的电位信息，仿真在同一负载变化频率下所述芯片的电源完整性信息。 | ||
| 地址 | 100085 北京市海淀区上地信息路2号2-1号C栋1层 | ||