发明名称 Betriebsverfahren für eine Magnetresonanzanlage mit Kompensation von Maxwell-Termen zweiter Ordnung
摘要 Betriebsverfahren für eine Magnetresonanzanlage, – wobei die Magnetresonanzanlage ein Grundmagnetsystem (1) aufweist, mittels dessen in einem Untersuchungsvolumen (2) der Magnetresonanzanlage ein zeitlich statisches, örtlich homogenes Grundmagnetfeld (B0) generierbar ist, – wobei die Magnetresonanzanlage mindestens ein Hochfrequenzsystem (4) aufweist, mittels dessen ein im Untersuchungsvolumen (2) angeordnetes Untersuchungsobjekt (5) zu Magnetresonanzen anregbar ist und mittels dessen im Untersuchungsobjekt (5) angeregte Magnetresonanzen empfangbar sind, – wobei die Magnetresonanzanlage ein Überlagerungssystem (6) aufweist, mittels dessen das Untersuchungsvolumen (2) mit Überlagerungsfeldern (Bx, By, Bz, B1, B2, B3, B4, B4', B4'') beaufschlagbar ist, so dass das Grundmagnetfeld (B0) und die Überlagerungsfelder (Bx, By, Bz, B1, B2, B3, B4, B4', B4'') sich zu einem Gesamtfeld (B) überlagern, – wobei das Überlagerungssystem (6) zumindest ein System erster Ordnung (7) und ein System zweiter Ordnung (13) umfasst, – wobei das System erster Ordnung (7) derart ausgebildet ist, dass von ihm Felder (Bx, By,...
申请公布号 DE102008028773(B4) 申请公布日期 2012.08.09
申请号 DE200810028773 申请日期 2008.06.17
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT 发明人 FEIWEIER, THORSTEN, DR.
分类号 G01R33/385;A61B5/055;G01R33/421;G01R33/565 主分类号 G01R33/385
代理机构 代理人
主权项
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