发明名称 |
使用量子点涂覆修复发光二极管的方法和设备 |
摘要 |
本发明涉及发光二极管修复方法和装置,其用于通过测量所制造的发光二极管的发射特性值并且在被选为缺陷产品的发光二极管上形成量子点层,来提高产量并且将被选为缺陷产品的发光二极管修复为发射颜色或者亮度提高的高质量发光二极管。根据本发明的一方面,发光二极管的修复方法包括以下步骤:测量发光二极管的发射特性值;确定所测量的发射特性值在目标范围之外的相应发光二极管为缺陷发光二极管;以及在缺陷发光二极管的顶层上形成量子点层。 |
申请公布号 |
CN102630350A |
申请公布日期 |
2012.08.08 |
申请号 |
CN201080051518.8 |
申请日期 |
2010.05.24 |
申请人 |
塔工程有限公司 |
发明人 |
金原南 |
分类号 |
H01L33/02(2006.01)I;H01L21/66(2006.01)I |
主分类号 |
H01L33/02(2006.01)I |
代理机构 |
北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 |
代理人 |
余刚;吴孟秋 |
主权项 |
一种修复发光二极管(LED)的方法,包括:测量发光二极管(LED)的发射特性值;确定所测量的发射特性值偏离目标范围的LED为缺陷LED;以及在所述缺陷LED的最上层上形成量子点层。 |
地址 |
韩国首尔庆尚北道 |