发明名称 |
基于光子晶体滤波片的微流控芯片荧光检测系统 |
摘要 |
一种基于光子晶体滤波片的微流控芯片荧光检测系统,包括集成有光子晶体滤波片的发光二极管(LED)激发光源、微流控芯片、光纤、集成有光子晶体滤波片的光电探测器等。其通过在微流控芯片荧光检测系统的LED激发光源和光电探测器的顶部集成光子晶体滤波片,取代分离的激发光滤波片和发射光滤波片,对激发光源中覆盖荧光区域的干扰光进行滤除。本发明实现了滤波片与LED激发光源和光电探测器的集成,进一步提高了检测系统的便携性和集成度。 |
申请公布号 |
CN102628805A |
申请公布日期 |
2012.08.08 |
申请号 |
CN201210126065.1 |
申请日期 |
2012.04.26 |
申请人 |
大连理工大学 |
发明人 |
曹暾 |
分类号 |
G01N21/64(2006.01)I;G01N21/01(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/64(2006.01)I |
代理机构 |
大连理工大学专利中心 21200 |
代理人 |
梅洪玉 |
主权项 |
一种基于光子晶体滤波片的微流控芯片荧光检测系统,包括激发光源、微流控芯片、光纤、光电探测器、高压电源和计算机;其特征在于:所述激发光源采用光子晶体滤波片集成发光二极管(LED),所述光电探测器采用光子晶体滤波片集成光电二极管(PD),光子晶体滤波片集成LED激发光源和PD探测器结构是在衬底上先生长一层2μm的基于III‑V族半导体材料的n型层,再生长一层反光层,然后生长一层基于III‑V族半导体材料的有源层,最后生长一层200‑300nm厚的基于III‑V族半导体材料的p型层;最后通过刻蚀工艺,在p型层刻蚀出平板光子晶体滤波片图样。 |
地址 |
116024 辽宁省大连市凌工路2号 |