| 发明名称 | 抗氧化修整熔丝的方法 | ||
| 摘要 | 本发明的抗氧化修整熔丝的方法包括以下步骤：测量熔丝探针的阻抗；判断熔丝探针的阻抗是否大于上限值，如果是，清理熔丝探针，再回到上述步骤，如果否，执行下述步骤；根据公式V＝R×I设定熔丝电路的输出电压，其中，V表示熔丝电路的输出电压，R表示熔丝探针的阻抗，I表示熔丝熔断电流；熔断选定的熔丝。本发明的抗氧化修整熔丝的方法可提高熔断熔丝的成功率，使得熔断熔丝的成功率趋于稳定；使用本发明抗氧化修整熔丝的方法可延长熔丝探针的使用寿命。 | ||
| 申请公布号 | CN101908524B | 申请公布日期 | 2012.08.08 |
| 申请号 | CN201010216521.2 | 申请日期 | 2010.06.30 |
| 申请人 | 上海华岭集成电路技术有限责任公司 | 发明人 | 岳小兵;祁建华;刘远华;汪瑞祺;张志勇;叶守银;牛勇 |
| 分类号 | H01L23/525(2006.01)I;G01R27/02(2006.01)I | 主分类号 | H01L23/525(2006.01)I |
| 代理机构 | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人 | 郑玮 |
| 主权项 | 一种抗氧化修整熔丝的方法，其特征在于，包括以下步骤：实时测量熔丝探针的阻抗；判断熔丝探针的阻抗是否大于上限值，如果是，清理熔丝探针，再回到上述步骤，如果否，执行下述步骤；根据公式V＝R×I灵活选择熔丝电路的输出电压，其中，V表示熔丝电路的输出电压，R表示熔丝探针的阻抗，I表示熔丝熔断电流；按照选定的熔丝电路的输出电压熔断选定的熔丝。 | ||
| 地址 | 201203 上海市张江郭守敬路351号2号楼1楼 | ||