激光扫描显微镜

摘要

本发明涉及能够得到正常的透射光图像的激光扫描显微镜。荧光检测单元(26)测量被激光的照射激励的来自试样(12)的荧光的光量，透射光检测部(27)测量激光透射试样(12)后的透射光的光量。并且，CLEM处理部(28)按照一个像素对应范围扫描时间进行如下控制，即，在属于下述情况之一时停止照射激光，所述情况包括在比一个像素对应范围扫描时间短的下限值判定时刻，荧光的光量小于下限阈值的情况，以及在一个像素对应范围扫描时间内，荧光的光量为上限阈值以上的情况。并且，CLEM处理部(28)根据在下限值判定时刻的透射光的光量，外插在实施一个像素对应范围扫描时间的曝光时测量的透射光的光量，图像处理部(29)从该外插后的光量取得透射光图像。本发明能够适用于例如激光扫描显微镜。

主权项

一种使激光扫描试样来取得图像的激光扫描显微镜，其特征在于，所述激光扫描显微镜具有：荧光测量单元，其测量被所述激光的照射激励的、从所述试样发出的荧光的光量；透射光测量单元，其测量所述激光透射所述试样后的透射光的光量；照射控制单元，其按照每个一个像素对应范围扫描时间进行控制，使得在下述至少一种情况下停止照射所述激光，其中，所述一个像素对应范围扫描时间是扫描与所述图像的一个像素对应的范围的时间，所述至少一种情况包括在比扫描与所述图像的一个像素对应的范围的时间短的下限值判定时刻，所述荧光的光量小于下限阈值的情况，以及在扫描与所述图像的一个像素对应的范围的时间内，所述荧光的光量为上限阈值以上的情况；外插单元，其根据由所述透射光测量单元在所述下限值判定时刻测量的透射光的光量，对在实施了所述一个像素对应范围扫描时间的照射时可能测量到的透射光的光量进行直线外插，所述下限值判定时刻是由所述照射控制单元判定由所述荧光测量单元测量的荧光的光量是否小于下限阈值的时刻；以及图像处理单元，其对由所述外插单元外插后的光量进行图像处理，取得已外插的透射光图像。