发明名称 等离子处理装置及等离子处理方法
摘要 本发明涉及等离子处理装置及处理方法,其产生均匀等离子以对大面积基板能够实施匀化处理。该等离子处理装置包含:真空腔;配置于真空腔内部下侧、由多个块件形成的下部电极;配置于真空腔内部上侧、呈接地状态的上部电极;向真空腔内部提供工艺气体的工艺气体供给部;与下部电极连接、并施加电源功率的电源功率供给部;与下部电极的各块件分别连接、向各块件单独提供偏置功率的偏置功率供给部;及计算施加于下部电极各块件的偏置功率、并控制偏置功率供给部的控制部。
申请公布号 CN101267708B 申请公布日期 2012.08.08
申请号 CN200810100302.0 申请日期 2008.02.05
申请人 三星电子株式会社;韩国科学技术院 发明人 黄太亨;张鸿永
分类号 H01L21/00(2006.01)I;H05H1/46(2006.01)I;H01L23/00(2006.01)I 主分类号 H01L21/00(2006.01)I
代理机构 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人 陶凤波
主权项 一种等离子处理装置,其特征在于,包含:真空腔;配置于所述真空腔内部下侧、由多个块件形成的下部电极,其中基板位于下部电极的各块件上;配置于所述真空腔内部上侧、呈接地状态的上部电极;向所述真空腔内部提供工艺气体的工艺气体供给部;与所述下部电极连接、并施加电源功率的电源功率供给部;与所述下部电极的各块件分别连接、向各块件单独提供偏置功率的偏置功率供给部;计算施加于所述下部电极各块件的偏置功率、并控制所述偏置功率供给部的控制部;等离子断层摄影部,其对将所述上部电极和下部电极之间的空间假想分割的各区域,分别进行等离子密度的断层摄影,并向所述控制部提供与拍摄的各区域等离子密度相关的数据,所述断层摄影部含有:多个第一摄影机构,其在与所述下部电极的上面平行的一方向、对所述上部电极和下部电极之间的空间进行摄影;多个第二摄影机构,其在与所述第一摄影机构不同的方向上进行摄影。
地址 韩国京畿道