发明名称 |
电容器制作方法 |
摘要 |
一种电容器制作方法,包括:提供层间介质层以及贯穿所述层间介质层的互连结构;在所述层间介质层上依次沉积刻蚀阻挡层,第一绝缘层;对所述的第一绝缘层表面进行磷离子注入,形成磷掺杂的中间绝缘层;在磷掺杂的中间绝缘层上形成第二绝缘层;依次刻蚀所述第二绝缘层,磷掺杂的中间绝缘层,第一绝缘层形成沟槽;刻蚀所述沟槽,使沟槽宽度增加,并使沟槽底部宽度接近沟槽顶部的宽度;去除所述刻蚀阻挡层;在所述沟槽内壁依次沉积掺杂多晶硅层和非掺杂多晶硅层;进行高温退火;在所述沟槽内壁形成位于非掺杂多晶硅层上的半球状多晶硅颗粒;依次沉积介电层,上电极。所述方法避免电容器上电极和下电极发生短接或者形成填充缺陷。 |
申请公布号 |
CN101996860B |
申请公布日期 |
2012.08.08 |
申请号 |
CN200910056280.7 |
申请日期 |
2009.08.11 |
申请人 |
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
发明人 |
罗飞;邹立 |
分类号 |
H01L21/02(2006.01)I;H01L21/28(2006.01)I;H01L21/3115(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/02(2006.01)I |
代理机构 |
上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 |
代理人 |
屈蘅;李时云 |
主权项 |
一种电容器制作方法,包括:提供层间介质层以及贯穿所述层间介质层的互连结构;在所述层间介质层上依次沉积刻蚀阻挡层,第一绝缘层,对所述的第一绝缘层表面进行磷离子注入,形成磷掺杂的中间绝缘层;在磷掺杂的中间绝缘层上形成第二绝缘层;依次刻蚀所述第二绝缘层,磷掺杂的中间绝缘层,第一绝缘层形成沟槽,所述沟槽的位置与所述互连结构的位置对应;刻蚀所述沟槽,使沟槽宽度增加,并使沟槽底部宽度接近沟槽顶部的宽度;去除所述刻蚀阻挡层;在所述沟槽内壁依次沉积掺杂多晶硅层和非掺杂多晶硅层;进行高温退火;在所述沟槽内壁形成位于非掺杂多晶硅层上的半球状多晶硅颗粒;沉积覆盖所述非掺杂多晶硅层以及半球状多晶硅颗粒的介电层;沉积覆盖所述介电层的上电极。 |
地址 |
201203 上海市张江路18号 |