Anordnung zur mikrowellengestützten zerstörungsfreien Prüfung

摘要

Anordnung zur mikrowellengestützten zerstörungsfreien Prüfung, bestehend aus einem Mikrowellen-ZfP-Gerät (1), welches nach dem Homodyn-Prinzip arbeitet, einem Quadratur-Amplituden-Modulator (4) sowie einem Wirbelstromprüfgerät (2), bei der das Mikrowellen-ZfP-Gerät (1) zwei Ausgänge für defektinformationstragende Signale (x, y) besitzt, während der Quadratur-Amplituden-Modulator (4) einen 90°-Phasenschieber (12), zwei Multiplizierer (13, 14) sowie einen Addierer (15) aufweist, wobei ein Multiplizierer (13) des Quadratur-Amplituden-Modulators (4) eingangsseitig mit einem der Ausgänge für defektinformationstragende Signale (x) des Mikrowellen-ZfP-Gerätes (1) verbunden ist, während sein weiterer Eingang mit dem vom 90°-Phasenschieber (12) phasenverschobenen Ausgangssignal des Wirbelstromprüfgerätes (2) belegt ist, der zweite Multiplizierer (14) eingangsseitig mit dem jeweils anderen der Ausgänge für defektinformationstragende Signale (y) des Mikrowellen-ZfP-Gerätes (1) verbunden ist, während sein weiterer Eingang mit dem unveränderten Ausgangssignal des Wirbelstromprüfgerätes (2) belegt ist und die Ausgänge der Multiplizierer (13, 14) zu den Eingängen des Addierers (15) führen, dessen Ausgang mit dem Eingang des...