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经营范围
发明名称
去灰方法及去灰装置
摘要
提供一种去灰方法及去灰装置,对于露出在晶圆上的多孔质Low-K膜,能够防止膜质的劣化,并自晶圆确实地除去阻剂。本发明的去灰装置,系将气体导入电介质电浆产生室14内,激发该气体而产生电浆,再藉由前述气体电浆来对使用了Low-K膜之被处理对象物S进行电浆处理。自气体控制部20被导入的去灰气体,系添加了H2的惰性气体。藉由这些气体的混合气体来生成电浆,再藉由所产生的氢自由基,构成可以除去阻剂。
申请公布号
TWI369735
申请公布日期
2012.08.01
申请号
TW093139188
申请日期
2004.12.16
申请人
芝浦机械电子装置股份有限公司 日本
发明人
山崎克弘
分类号
H01L21/31
主分类号
H01L21/31
代理机构
代理人
林志刚 台北市中山区南京东路2段125号7楼
主权项
地址
日本
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