发明名称 |
测量液晶空间光调制器gamma曲线的方法及系统 |
摘要 |
本发明涉及一种测量液晶空间光调制器gamma曲线的方法及系统,其中方法包括:在液晶空间光调制器里写入灰度值按大小顺序连续变化的图像,然后通过光电传感器获取液晶空间光调制器里输出的测试灰度值,最后对获取的测试灰度值归一化处理,绘制gamma曲线,其中系统用CCD来接收输出的灰度信息,本发明减少了测量gamma曲线的工作量,数据稳定性也更高。 |
申请公布号 |
CN102621717A |
申请公布日期 |
2012.08.01 |
申请号 |
CN201110082615.X |
申请日期 |
2011.04.01 |
申请人 |
北京国科世纪激光技术有限公司 |
发明人 |
樊仲维;邱基斯;唐熊忻;侯立群;张晶;张国新;连富强;黄科;麻云凤;找天卓;王小发 |
分类号 |
G02F1/13(2006.01)I;G01M11/02(2006.01)I |
主分类号 |
G02F1/13(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种测量液晶空间光调制器gamma曲线的方法,其特征在于,包括以下步骤:在液晶空间光调制器里写入图像,所述图像包含按大小顺序连续变化的标准灰度值;通过光电传感器接收液晶空间光调制器里输出的测试灰度值,所述测试灰度值与标准灰度值一一对应;对获取的测试灰度值进行归一化处理,利用归一化结果绘制gamma曲线。 |
地址 |
100192 北京市海淀区西小口路66号东升科技园北领地C区7号楼二层 |