发明名称 N型超结VDMOS中多晶硅P型柱的形成方法
摘要 本发明公开了一种N型超结VDMOS中多晶硅P型柱的形成方法,包括:步骤一、在一N型硅衬底上形成N型漏区以及N型硅外延层,在N型外延层上刻蚀出V型槽或锥形孔;步骤二、淀积三层多晶硅填满V型槽或锥形孔,其中第二层多晶硅淀积后,进行P型杂质的注入,注入后N型外延层中的P型杂质总量与N型杂质总量相等,三层多晶硅淀积完成后,对衬底表面进行研磨平整化;步骤三、对注入的P型杂质进行退火推进,形成多晶硅P型柱;步骤四、形成N型超结VDMOS的源区、栅极以及源、漏和栅极的金属接触。本发明能够降低工艺成本,并能实现器件的低导通电阻高耐压特性,且工艺参数的可调节性强,适用范围广。
申请公布号 CN102129998B 申请公布日期 2012.08.01
申请号 CN201010027303.4 申请日期 2010.01.18
申请人 上海华虹NEC电子有限公司 发明人 钱文生;韩峰
分类号 H01L21/336(2006.01)I 主分类号 H01L21/336(2006.01)I
代理机构 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人 丁纪铁
主权项 一种N型超结VDMOS中多晶硅P型柱的形成方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤一、在一N型硅衬底上形成N型漏区以及N型硅外延层,在所述N型硅外延层上刻蚀出V型槽或锥形孔;步骤二、淀积三层多晶硅填满所述V型槽或锥形孔,其中第二层多晶硅淀积后,进行P型杂质的注入,注入后所述N型硅外延层中的P型杂质总量与N型杂质总量相等,所述三层多晶硅淀积完成后,对所述衬底表面进行研磨平整化;步骤三、对所述注入的P型杂质进行退火推进,形成所述多晶硅P型柱;步骤四、形成所述N型超结VDMOS的源区、栅极以及源、漏和栅极的金属接触。
地址 201206 上海市浦东新区川桥路1188号