发明名称 超大规模集成电路用高纯钨材制备方法
摘要 一种超大规模集成电路用高纯钨材的制备方法,包括预还原、氢气还原、酸洗除杂、配粉、成形、预烧结、高温烧结、切断脱气处理等步骤。本发明的还原阶段采取钨粉制备的多组工艺,制得不同粒度的钨粉,经配合的钨粉粒度呈良好的正态分布,钨粉间结合力得以提高,压坯成形过程无须添加粘结剂,避免了碳的污染;还原后钨粉采用稀酸洗涤,有效降低可溶于酸和水的Fe及其它金属杂质;钨条经切断后在氢气气氛中脱气处理,降低了金属间隙气体杂质含量;从而实现了制备高纯钨材的效果,所获得的高纯钨材其化学纯度高,杂质含量低,适合于规模化生产。
申请公布号 CN102161101B 申请公布日期 2012.08.01
申请号 CN201110143147.2 申请日期 2011.05.31
申请人 赣州虹飞钨钼材料有限公司 发明人 闵邦平;胡元钧;王竹青;曾巧华;柴朝晖;刘希星;刘少霖
分类号 B22F9/22(2006.01)I;B22F3/16(2006.01)I 主分类号 B22F9/22(2006.01)I
代理机构 江西省专利事务所 36100 代理人 黄新平
主权项 一种超大规模集成电路用高纯钨材的制备方法,其特征在于:它包括以下步骤:A、预还原,选用符合GB/T10116—2007中APT—0牌号的仲钨酸铵,采用常规技术通过四带温区还原炉,氢气还原生成含氧量为19~20%的蓝色氧化钨; B、氢气还原,将蓝色氧化钨通过五带温区还原炉,在还原温度为600~950℃,氢气流量为4.0~6.0m3/h,氢气露点≤‑60℃,推速为20~25min的工艺条件下调整装舟量,装舟量分别为280±5g、330±5g、380±5g、430±5g、480±5g时,制得费氏粒度为2.0±0.2μm、2.5±0.2μm、3.0±0.2μm、3.5±0.2μm、4.0±0.2μm的钨粉;C、酸洗除杂,将以上各粒度钨粉分别用电阻率>1.0×105Ω·cm的去离子水搅拌洗涤30~35min,停搅拌澄清后,抽去上清液,加入浓度4~5%的盐酸,搅拌洗涤45~50min,停搅拌澄清,抽去上清液,再用电阻率>1.0×105Ω·cm 去离子水清洗至pH值>3为止,钨粉经真空过滤,置于70~90℃的真空烘干箱内干燥24~30h,并经160~200目筛筛分; D、配粉,将酸洗除杂后的各粒度钨粉,按从小到大的顺序,比例为8~10:18~20:36~40:18~20:8~10,配合成费氏粒度为2.9~3.2μm的钨粉,在混料机中混合25~30min;E、成形,将上工序得到的粉料,用常规技术在15~25MPa压力下模压成形,制得纯钨坯条;F、预烧结,纯钨坯条置于钼舟内,在氢气露点≤‑70℃,温度1200~1400℃下烧结30~50min;G、高温烧结,预烧结后纯钨坯条置于垂熔罩内,在露点≤‑70℃的氢气保护下高温烧结,烧结制度为二段升温、二段保温,电流/时间参数为 升温:(0‑3200A)/15min、保温:3200A/15min、升温:(3200‑4150A)/2min、保温:4150A/20min; H、切断脱气处理,将高温烧结所得纯钨条切断成20~50mm,装入钼舟,置于温度为1600±50℃刚玉管电气炉中,在氢气露点≤‑70℃,保温时间为3~5h下脱气处理,即得。
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