发明名称 |
一种触摸屏品质测试中的样品切割设备 |
摘要 |
本实用新型公开了一种触摸屏品质测试中的样品切割设备,用于解决现有触摸屏品质测试阶段,触摸屏样品切割精度低,测试效率低下的技术问题。本实用新型提供的样品切割设备,通过自带的显微镜系统有效准确的锁定预切割位置,利用设备上的固定在水平支杆上的切割刀具实现切割,改善了触摸屏品质测试阶段切割触摸屏样品的方式,提高了切割精度,节省了测试取样时间,降低了时间和人力成本,提高了测试效率。 |
申请公布号 |
CN202357295U |
申请公布日期 |
2012.08.01 |
申请号 |
CN201120476438.9 |
申请日期 |
2011.11.25 |
申请人 |
北京京东方光电科技有限公司 |
发明人 |
杨盛际;胡明 |
分类号 |
B28D1/22(2006.01)I;C03B33/037(2006.01)I |
主分类号 |
B28D1/22(2006.01)I |
代理机构 |
北京派特恩知识产权代理事务所(普通合伙) 11270 |
代理人 |
程立民;张颖玲 |
主权项 |
一种触摸屏品质测试中的样品切割设备,其特征在于,该设备包括:带有侧台的机台;位于机台侧边的用于固定待切割样品的样品固定夹具;安装于侧台上的水平支杆,与机台上表面平行,具有中空的滑轨;安装于水平支杆的滑轨内,用于固定切割刀具的刀具固定组件;安装于水平支杆端部,用于对待切割样品进行定位的显微镜。 |
地址 |
100176 北京市大兴区经济技术开发区西环中路8号 |