发明名称 一种触摸屏品质测试中的样品切割设备
摘要 本实用新型公开了一种触摸屏品质测试中的样品切割设备,用于解决现有触摸屏品质测试阶段,触摸屏样品切割精度低,测试效率低下的技术问题。本实用新型提供的样品切割设备,通过自带的显微镜系统有效准确的锁定预切割位置,利用设备上的固定在水平支杆上的切割刀具实现切割,改善了触摸屏品质测试阶段切割触摸屏样品的方式,提高了切割精度,节省了测试取样时间,降低了时间和人力成本,提高了测试效率。
申请公布号 CN202357295U 申请公布日期 2012.08.01
申请号 CN201120476438.9 申请日期 2011.11.25
申请人 北京京东方光电科技有限公司 发明人 杨盛际;胡明
分类号 B28D1/22(2006.01)I;C03B33/037(2006.01)I 主分类号 B28D1/22(2006.01)I
代理机构 北京派特恩知识产权代理事务所(普通合伙) 11270 代理人 程立民;张颖玲
主权项 一种触摸屏品质测试中的样品切割设备,其特征在于,该设备包括:带有侧台的机台;位于机台侧边的用于固定待切割样品的样品固定夹具;安装于侧台上的水平支杆,与机台上表面平行,具有中空的滑轨;安装于水平支杆的滑轨内,用于固定切割刀具的刀具固定组件;安装于水平支杆端部,用于对待切割样品进行定位的显微镜。
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