太赫兹偏振实时成像的方法

摘要

一种太赫兹偏振实时成像的方法，包括如下步骤：(1)将待测样品放入太赫兹偏振实时成像装置中；(2)连续改变泵浦光和探测光的光程差，测量经过样品的太赫兹脉冲的一个偏振分量Ex；(3)改变探测光的偏振态，再次连续改变泵浦光和探测光的光程差，测量太赫兹脉冲的另一偏振分量Ey；(4)将样品的两组太赫兹偏振分量进行处理，并形成相对强度图像。本发明可快速准确的测量太赫兹光波的不同偏振分量，对于目标物体高精度识别，应用范围广阔。

主权项

一种太赫兹偏振实时成像的方法，其特征在于，包括如下步骤：(1)将待测样品放入太赫兹偏振实时成像装置中；(2)激光器产生的飞秒脉冲分成两束光，即泵浦光和探测光，其中泵浦光用以产生太赫兹脉冲，探测光用以探测太赫兹脉冲，连续改变泵浦光和探测光的光程差，测量经过样品的太赫兹脉冲的一个偏振分量Ex；(3)通过二分之一波片改变探测光的偏振态，再次连续改变泵浦光和探测光的光程差，测量太赫兹脉冲的另一偏振分量Ey；从而测量出太赫兹脉冲的水平偏振分量Ex和竖直偏振分量Ey；测量太赫兹脉冲的水平偏振分量和竖直偏振分量的方法为：测量被太赫兹脉冲的电场调制后的探测光在0度偏振时的偏振分量，得到太赫兹脉冲的水平偏振分量；测量被太赫兹脉冲的电场调制后的探测光在45度或‑45度偏振时的偏振分量，得到太赫兹脉冲的竖直偏振分量，所述0度、45度或‑45度均为探测光初始偏振态与探测晶体<001>方向的夹角；(4)将样品的两组太赫兹偏振分量进行处理，并形成相对强度图像。