发明名称 一种低应力中子转换薄膜元件及其制备方法
摘要 本发明属于精密光学元件制作技术领域,公开了一种低应力中子转换薄膜元件及其制备方法。该元件包括基底(1)和碳化硼/铬周期多层膜(2),铬薄膜层(3)和碳化硼薄膜层(4)交替沉积于基底(1)表面上,铬薄膜层(3)和碳化硼薄膜层(4)的数目相同。制备方法如下:首先对基底(1)进行清洗,然后在基底(1)上镀制碳化硼/铬周期多层膜(2)。本发明的基于碳化硼/铬周期多层膜的低应力中子转换薄膜元件具有低应力、高制作效率、价格便宜、中子转换性能满足需求等优势,更适于实现此类产品的产业化。
申请公布号 CN102602070A 申请公布日期 2012.07.25
申请号 CN201210044966.6 申请日期 2012.02.27
申请人 同济大学 发明人 张众;梁玉;王占山
分类号 B32B9/04(2006.01)I;B32B15/00(2006.01)I;B32B17/00(2006.01)I;C23C14/35(2006.01)I;C23C14/06(2006.01)I;C23C14/18(2006.01)I 主分类号 B32B9/04(2006.01)I
代理机构 上海智信专利代理有限公司 31002 代理人 吴林松
主权项 一种低应力中子转换薄膜元件,其特征在于:该元件包括基底(1)和碳化硼/铬周期多层膜(2),铬薄膜层(3)和碳化硼薄膜层(4)交替沉积于基底(1)表面上,铬薄膜层(3)和碳化硼薄膜层(4)的数目相同。
地址 200092 上海市杨浦区四平路1239号
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