发明名称 |
一种低应力中子转换薄膜元件及其制备方法 |
摘要 |
本发明属于精密光学元件制作技术领域,公开了一种低应力中子转换薄膜元件及其制备方法。该元件包括基底(1)和碳化硼/铬周期多层膜(2),铬薄膜层(3)和碳化硼薄膜层(4)交替沉积于基底(1)表面上,铬薄膜层(3)和碳化硼薄膜层(4)的数目相同。制备方法如下:首先对基底(1)进行清洗,然后在基底(1)上镀制碳化硼/铬周期多层膜(2)。本发明的基于碳化硼/铬周期多层膜的低应力中子转换薄膜元件具有低应力、高制作效率、价格便宜、中子转换性能满足需求等优势,更适于实现此类产品的产业化。 |
申请公布号 |
CN102602070A |
申请公布日期 |
2012.07.25 |
申请号 |
CN201210044966.6 |
申请日期 |
2012.02.27 |
申请人 |
同济大学 |
发明人 |
张众;梁玉;王占山 |
分类号 |
B32B9/04(2006.01)I;B32B15/00(2006.01)I;B32B17/00(2006.01)I;C23C14/35(2006.01)I;C23C14/06(2006.01)I;C23C14/18(2006.01)I |
主分类号 |
B32B9/04(2006.01)I |
代理机构 |
上海智信专利代理有限公司 31002 |
代理人 |
吴林松 |
主权项 |
一种低应力中子转换薄膜元件,其特征在于:该元件包括基底(1)和碳化硼/铬周期多层膜(2),铬薄膜层(3)和碳化硼薄膜层(4)交替沉积于基底(1)表面上,铬薄膜层(3)和碳化硼薄膜层(4)的数目相同。 |
地址 |
200092 上海市杨浦区四平路1239号 |