用于集成电路芯片最终测试微调的熔线电路

摘要

本实用新型提出一种用于集成电路芯片最终测试微调的熔线电路，包含：至少一电子熔线、与该电子熔线对应的至少一控制开关、以及阻抗元件。其中，电子熔线与对应的控制开关串接于预设接点与接地接点之间；控制开关接收控制讯号，以决定控制开关是否导通，使得预设电流流经对应的电子熔线，并使其熔断，造成熔线电路开路；阻抗元件耦接于控制开关中的基板端与源极端之间，以增加寄生通道阻抗，改善熔线电路的静电放电防护，避免集成电路芯片于最终测试微调时，造成调整错误。

主权项

一种用于集成电路芯片最终测试微调的熔线电路，其特征在于，包含：至少一电子熔线；与该电子熔线对应的至少一控制开关，其与该电子熔线串接于一接地接点与一预设接点之间，每一控制开关包括：一控制端，接收一控制讯号，以决定该控制开关是否导通，使得一预设电流流经该对应的电子熔线，并使其熔断，造成该熔线电路开路，其中该预设电流自该预设接点流向该接地接点；一源极端与一漏极端，根据该控制讯号，于其间形成一受控通道，以作为该预设电流的通道，其中该受控通道与该电子熔线串接；以及一基板端，与该漏极端间形成一寄生二极管，以阻止该预设电流流入该基板端；以及一阻抗元件，耦接于该基板端与该源极端之间。