发明名称 |
一种阻变存储器单元的编程或擦除方法及装置 |
摘要 |
本发明涉及一种阻变存储器单元的编程或擦除方法及装置,该装置包括阻变存储器单元(502)和晶体管(501),串联电阻(503),信号发生器,电流检测装置和控制装置;串联电阻(503)与阻变存储器单元(502)串联;信号发生器,用于向阻变存储器单元(502)输入连续的阶梯式脉冲电压信号;电流检测装置,用于检测串联电阻(503)上的电流;控制装置,用于判断串联电阻(503)上电流的检测值是否符合预设条件,在检测值符合预设条件时,控制信号发生器终止信号输出,完成阻变存储器单元的编程或擦除操作。本发明能够显著改善阻变存储器单元的阻变参数的离散分布,并且能提高器件的耐久性,延长其使用寿命。 |
申请公布号 |
CN102610272A |
申请公布日期 |
2012.07.25 |
申请号 |
CN201110021108.5 |
申请日期 |
2011.01.19 |
申请人 |
中国科学院微电子研究所 |
发明人 |
刘明;王明;吕杭炳;刘琦;龙世兵 |
分类号 |
G11C11/56(2006.01)I;G11C16/14(2006.01)I |
主分类号 |
G11C11/56(2006.01)I |
代理机构 |
北京市德权律师事务所 11302 |
代理人 |
王建国 |
主权项 |
一种阻变存储器单元的编程或擦除装置,包括阻变存储器单元(502)和晶体管(501),其特征在于,还包括:串联电阻(503),信号发生器,电流检测装置和控制装置;串联电阻(503)与所述阻变存储器单元(502)串联;信号发生器,用于向所述阻变存储器单元(502)输入连续的阶梯式脉冲电压信号;电流检测装置,用于检测所述串联电阻(503)上的电流;控制装置,用于判断串联电阻(503)上电流的检测值是否符合预设条件,在检测值符合预设条件时,控制信号发生器终止信号输出,完成阻变存储器单元的编程或擦除操作;在进行编程操作时,所述预设条件为检测值大于预设值;在进行擦除操作时,所述预设条件为检测值小于预设值。 |
地址 |
100029 北京市朝阳区北土城西路3号 |