发明名称 一种阻变存储器单元的编程或擦除方法及装置
摘要 本发明涉及一种阻变存储器单元的编程或擦除方法及装置,该装置包括阻变存储器单元(502)和晶体管(501),串联电阻(503),信号发生器,电流检测装置和控制装置;串联电阻(503)与阻变存储器单元(502)串联;信号发生器,用于向阻变存储器单元(502)输入连续的阶梯式脉冲电压信号;电流检测装置,用于检测串联电阻(503)上的电流;控制装置,用于判断串联电阻(503)上电流的检测值是否符合预设条件,在检测值符合预设条件时,控制信号发生器终止信号输出,完成阻变存储器单元的编程或擦除操作。本发明能够显著改善阻变存储器单元的阻变参数的离散分布,并且能提高器件的耐久性,延长其使用寿命。
申请公布号 CN102610272A 申请公布日期 2012.07.25
申请号 CN201110021108.5 申请日期 2011.01.19
申请人 中国科学院微电子研究所 发明人 刘明;王明;吕杭炳;刘琦;龙世兵
分类号 G11C11/56(2006.01)I;G11C16/14(2006.01)I 主分类号 G11C11/56(2006.01)I
代理机构 北京市德权律师事务所 11302 代理人 王建国
主权项 一种阻变存储器单元的编程或擦除装置,包括阻变存储器单元(502)和晶体管(501),其特征在于,还包括:串联电阻(503),信号发生器,电流检测装置和控制装置;串联电阻(503)与所述阻变存储器单元(502)串联;信号发生器,用于向所述阻变存储器单元(502)输入连续的阶梯式脉冲电压信号;电流检测装置,用于检测所述串联电阻(503)上的电流;控制装置,用于判断串联电阻(503)上电流的检测值是否符合预设条件,在检测值符合预设条件时,控制信号发生器终止信号输出,完成阻变存储器单元的编程或擦除操作;在进行编程操作时,所述预设条件为检测值大于预设值;在进行擦除操作时,所述预设条件为检测值小于预设值。
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