| 发明名称 | 基于智能卡片上flash串行测试接口时序的实现方法 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种基于智能卡片上flash串行测试接口时序的实现方法，通过定义智能卡管脚到片上flash的串并转换关系，针对不同的flash供应商可实现串行测试接口时序通用的目的。实现步骤包含：数据、地址和控制信号按组定义不同的处理顺序和处理方式；将数据、地址和控制信号组成ADC、ACD、DC、CD四种工作模式；ADC模式同DC模式组合，完成成组写入操作；ACD模式同CD模式组合，完成成组读出操作。本发明提供的时序实现方法简单清晰，参考其提供的时序开发的flash串行测试接口电路在芯片中占用的面积小，能够最大限度地降低生产成本。 | ||
| 申请公布号 | CN102610281A | 申请公布日期 | 2012.07.25 |
| 申请号 | CN201110025531.2 | 申请日期 | 2011.01.24 |
| 申请人 | 上海华虹集成电路有限责任公司 | 发明人 | 王彩红 |
| 分类号 | G11C29/56(2006.01)I | 主分类号 | G11C29/56(2006.01)I |
| 代理机构 | 上海东创专利代理事务所(普通合伙) 31245 | 代理人 | 曹立维 |
| 主权项 | 基于智能卡片上flash串行测试接口时序的实现方法，其特征在于包含以下实现步骤：(1)数据、地址和控制信号按组定义不同的处理顺序和处理方式；(2)将数据、地址和控制信号组成ADC、ACD、DC、CD 4种工作模式；(3)ADC模式同DC模式组合，完成成组写入操作；(4)ACD模式同CD模式组合，完成成组读出操作； | ||
| 地址 | 201203 上海市浦东新区碧波路572弄39号 | ||