发明名称 |
一种测量金属微结构残余应力三维分布的装置及其方法 |
摘要 |
本发明公开了一种测量金属微结构残余应力三维分布的装置,包括:X射线发生系统、微衍射与光路导向系统、工作台系统、检测系统、计算机和控制系统;所述X射线发生系统产生短波长的X射线,经过微衍射与光路导向系统射到工作台系统内的待测的金属微构件样品上的被检测点上,经过样品的衍射再次通过微衍射与光路导向系统进入检测系统,检测系统接收进入检测系统的X射线进行检测,并将得到的检测数据送至计算机,计算机对收到的检测数据分析处理后,得到金属微构件样品被测点的残余应变和残余应力数据并进行误差分析和参数修正,当前点测试完成后,计算机发出指令给控制系统,控制系统更换样品检测点。本发明能自动、无损、真实地测定X射线穿透范围内的残余应变和残余应力在金属微结构中的三维分布,高效、无损、操作简便。 |
申请公布号 |
CN102608144A |
申请公布日期 |
2012.07.25 |
申请号 |
CN201210085349.0 |
申请日期 |
2012.03.28 |
申请人 |
苏州科技学院 |
发明人 |
汪帮富;朱学莉;宋娟;李江澜;祝勇俊 |
分类号 |
G01N23/20(2006.01)I |
主分类号 |
G01N23/20(2006.01)I |
代理机构 |
南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 |
代理人 |
柏尚春 |
主权项 |
一种测量金属微结构残余应力三维分布的装置,其特征在于:包括:X射线发生系统、微衍射与光路导向系统、工作台系统、检测系统、计算机和控制系统;所述X射线发生系统产生短波长的X射线,经过微衍射与光路导向系统射到工作台系统内的待测的金属微构件样品上的被检测点上,经过样品的衍射再次通过微衍射与光路导向系统进入检测系统,检测系统接收进入检测系统的X射线进行检测,并将得到的检测数据送至计算机,计算机所述控制系统对收到的检测数据分析处理后,得到金属微构件样品被测点的残余应变和残余应力数据并对该数据进行误差分析和参数修正,金属微构件样品当前检测点完成检测后,计算机发出指令给控制系统,控制系统控制工作台系统位移至下一个样品检测点。 |
地址 |
215011 江苏省苏州市苏州新区滨河路1701号 |