发明名称 |
一种基于相位修正的RCS外推方法 |
摘要 |
本发明涉及一种基于相位修正的RCS外推方法,其特征在于步骤如下:在微波暗室中对参考平板进行近距RCS测试,得到参考平板的散射值Eplane_s(α);计算参考平板的远场理论值Eplane_∞(α);在微波暗室中对目标进行近距RCS测试,得到目标在该距离下的散射值Es(α);计算F-1[Esi(α)]后对F-1[Esi(α)]进行傅里叶变换,得到目标的远场散射值Esi(α)。本发明方法,通过RCS近距离测试,对得到的数据做相位修正就可获得远场,这样就能在缩减了测试距离的情况下,实现RCS测试,使RCS测试更加方便。 |
申请公布号 |
CN102608591A |
申请公布日期 |
2012.07.25 |
申请号 |
CN201210089441.4 |
申请日期 |
2012.03.30 |
申请人 |
西北工业大学 |
发明人 |
李南京;陈卫军;李瑛;刘琦;刘宁;张麟兮;郭淑霞;周扬 |
分类号 |
G01S7/41(2006.01)I;G01S7/40(2006.01)I |
主分类号 |
G01S7/41(2006.01)I |
代理机构 |
西北工业大学专利中心 61204 |
代理人 |
王鲜凯 |
主权项 |
1.一种基于相位修正的RCS外推方法,其特征在于步骤如下:步骤1:在微波暗室中对参考平板进行近距RCS测试,得到参考平板的散射值E<sub>plane_s</sub>(α),其中α为测试方位角;步骤2:计算参考平板的远场理论值E<sub>plane_∞</sub>(α);<img file="FDA0000148572130000011.GIF" wi="555" he="123" />其中<img file="FDA0000148572130000012.GIF" wi="55" he="61" />ω分别为在测试频率下的平板散射场的传播矢量与角频率。A为散射场的矢量磁位,<img file="FDA0000148572130000013.GIF" wi="499" he="118" />μ为自由空间磁导率,J为平板面电流密度,这里假设为1,R为板上的每点到测试点的距离,k为波数;步骤3:在微波暗室中对目标进行近距RCS测试,得到目标在该距离下的散射值E<sub>s</sub>(α);步骤4:根据下式计算F<sup>-1</sup>[E<sub>si</sub>(α)];<maths num="0001"><![CDATA[<math><mrow><msup><mi>F</mi><mrow><mo>-</mo><mn>1</mn></mrow></msup><mo>[</mo><msub><mi>E</mi><mi>si</mi></msub><mrow><mo>(</mo><mi>α</mi><mo>)</mo></mrow><mo>]</mo><mo>≈</mo><mfrac><mrow><msup><mi>F</mi><mrow><mo>-</mo><mn>1</mn></mrow></msup><mo>[</mo><msub><mi>E</mi><mrow><mi>plane</mi><mo>_</mo><mo>∞</mo></mrow></msub><mrow><mo>(</mo><mi>α</mi><mo>)</mo></mrow><mo>]</mo></mrow><mrow><msup><mi>F</mi><mrow><mo>-</mo><mn>1</mn></mrow></msup><mo>[</mo><msub><mi>E</mi><mrow><mi>plane</mi><mo>_</mo><mi>s</mi></mrow></msub><mrow><mo>(</mo><mi>α</mi><mo>)</mo></mrow><mo>]</mo></mrow></mfrac><msup><mi>F</mi><mrow><mo>-</mo><mn>1</mn></mrow></msup><mo>[</mo><msub><mi>E</mi><mi>s</mi></msub><mrow><mo>(</mo><mi>α</mi><mo>)</mo></mrow><mo>]</mo><mo>;</mo></mrow></math>]]></maths>步骤5:对F<sup>-1</sup>[E<sub>si</sub>(α)]进行傅里叶变换,得到目标的远场散射值E<sub>si</sub>(α),F<sup>-1</sup>[·]为逆傅里叶变换。 |
地址 |
710072 陕西省西安市友谊西路127号 |