测试探针及探针座

摘要

本发明提供了一种测试探针及探针座。测试探针具有一体成型的弹性金属本体。金属本体包含第一弯折部以及第二弯折部，测试探针由第一弯折部的一端延伸出第一探针部，可供接触于待测的集成电路组件。另外，测试探针由第二弯折部相反于第一弯折部的另一端延伸出悬臂状的第二探针部，可供接触于印刷电路板。此外，第一弯折部的弯折方向相同于第二弯折部的弯折方向。

主权项

一种测试探针，具有一体成型的弹性的金属本体，其特征在于：该金属本体包含一第一弯折部与一第二弯折部，该测试探针自该第一弯折部的一端延伸出一悬臂状的第一探针部，可供接触于一待测的集成电路组件，该测试探针自该第二弯折部相反于该第一弯折部的另一端延伸出一悬臂状的第二探针部，可供接触于一印刷电路板，该第一弯折部的弯折方向相同于该第二弯折部的弯折方向，该第一弯折部的弯折角度大致为90度，且该第二弯折部的弯折角度大于90度，该测试探针构成一近似匚型结构。