发明名称 使用被接合的金属平面的3维集成结构和方法
摘要 一种制造3D集成电路的方法和3D集成电路结构。存在接合至第二半导体结构的第一半导体结构。各半导体结构包括半导体晶片、所述半导体晶片上的前段(FEOL)布线、所述FEOL布线上的后段(BEOL)布线、所述BEOL布线上的绝缘体层和所述绝缘体层上的金属层。所述第一半导体结构与所述第二半导体结构对齐,使得各所述半导体结构的金属层相互面对。各所述半导体结构的金属层通过金属对金属键相互接触并且接合,其中接合的金属层形成电隔离层。
申请公布号 CN101887887B 申请公布日期 2012.07.25
申请号 CN201010179977.6 申请日期 2010.05.10
申请人 国际商业机器公司 发明人 马克塔·G·法鲁克;萨布拉马尼安·S·伊耶
分类号 H01L25/065(2006.01)I;H01L21/50(2006.01)I;H01L23/485(2006.01)I;H01L21/60(2006.01)I 主分类号 H01L25/065(2006.01)I
代理机构 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人 邱军
主权项 一种制造3维集成电路的方法,包括的步骤是:获得第一半导体结构,所述第一半导体结构包括第一半导体晶片、第一半导体晶片上的前段布线,前段布线上的后段布线,后段布线上的绝缘体层和绝缘体层上的金属层;获得第二半导体结构,所述第二半导体结构包括第二半导体晶片、第二半导体晶片上的前段布线,前段布线上的后段布线,后段布线上的绝缘体层和绝缘体层上的金属层;对齐第一半导体结构和第二半导体结构,使得第一和第二半导体结构的金属层相互面对;并且相互接触并且接合第一和第二半导体结构的金属层,其中接合的金属层形成被电隔离的层。
地址 美国纽约阿芒克