发明名称 |
使用被接合的金属平面的3维集成结构和方法 |
摘要 |
一种制造3D集成电路的方法和3D集成电路结构。存在接合至第二半导体结构的第一半导体结构。各半导体结构包括半导体晶片、所述半导体晶片上的前段(FEOL)布线、所述FEOL布线上的后段(BEOL)布线、所述BEOL布线上的绝缘体层和所述绝缘体层上的金属层。所述第一半导体结构与所述第二半导体结构对齐,使得各所述半导体结构的金属层相互面对。各所述半导体结构的金属层通过金属对金属键相互接触并且接合,其中接合的金属层形成电隔离层。 |
申请公布号 |
CN101887887B |
申请公布日期 |
2012.07.25 |
申请号 |
CN201010179977.6 |
申请日期 |
2010.05.10 |
申请人 |
国际商业机器公司 |
发明人 |
马克塔·G·法鲁克;萨布拉马尼安·S·伊耶 |
分类号 |
H01L25/065(2006.01)I;H01L21/50(2006.01)I;H01L23/485(2006.01)I;H01L21/60(2006.01)I |
主分类号 |
H01L25/065(2006.01)I |
代理机构 |
北京市柳沈律师事务所 11105 |
代理人 |
邱军 |
主权项 |
一种制造3维集成电路的方法,包括的步骤是:获得第一半导体结构,所述第一半导体结构包括第一半导体晶片、第一半导体晶片上的前段布线,前段布线上的后段布线,后段布线上的绝缘体层和绝缘体层上的金属层;获得第二半导体结构,所述第二半导体结构包括第二半导体晶片、第二半导体晶片上的前段布线,前段布线上的后段布线,后段布线上的绝缘体层和绝缘体层上的金属层;对齐第一半导体结构和第二半导体结构,使得第一和第二半导体结构的金属层相互面对;并且相互接触并且接合第一和第二半导体结构的金属层,其中接合的金属层形成被电隔离的层。 |
地址 |
美国纽约阿芒克 |