| 发明名称 | 中子探测器 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种中子探测器。其中，中子探测器包括中子慢化体，其适于吸收通过其中的X射线，并将快中子慢化为热中子；和热中子探测器，其适于探测所述热中子以获得关于所述快中子的信息。本发明通过设置中子慢化体能够排除X射线对快中子测量的干扰，从而提高了中子测量的准确性。并通过同时获得X射线和中子的两种不同的衰减信息，提高了对检测物体的识别能力。 | ||
| 申请公布号 | CN102608651A | 申请公布日期 | 2012.07.25 |
| 申请号 | CN201110459081.8 | 申请日期 | 2009.12.29 |
| 申请人 | 同方威视技术股份有限公司;清华大学 | 发明人 | 李元景;杨祎罡;李铁柱;张勤俭;吴彬 |
| 分类号 | G01T3/04(2006.01)I | 主分类号 | G01T3/04(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人 | 周春梅 |
| 主权项 | 1.一种用于物质识别的中子探测器，包括：中子慢化体，其适于吸收通过其中的X射线，并将快中子慢化为热中子；和热中子探测器，其适于探测所述热中子以获得关于所述快中子的信息，其基于下列公式识别物质，<img file="787167DEST_PATH_IMAGE002.GIF" wi="328" he="103" />其中，t为被检测物体的厚度；μ<sub>n</sub>(t)为光中子的衰减系数；μ<sub>X</sub>(t)为X射线的衰减系数；I<sub>n</sub>(t)为入射光中子在被检测物体厚度t处的强度, I<sub>n</sub>(0)则为入射光中子的未衰减强度；I<sub>X</sub>(t)为入射X射线在被检测物体厚度t处的强度, I<sub>X</sub>(0)则为入射X射线的未衰减强度。 | ||
| 地址 | 100084 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层 | ||