发明名称 具有照明设备之缺陷检测装置
摘要 一种具有照明设备之缺陷检测装置,包含有第一与第二取像单元,可分别自不同的角度取得待测物影像,照明光源装置安装于取像单元之邻近处,而发射照明光束,第一光学镜片设置于照明光束的光路上,照明光束照射于第一光学镜片后将部分反射,使第一取像单元得以取得待测物的影像,照明光束也将部分穿透第一光学镜片,而照射于第二光学镜片,此时第二光学镜片将反射照明光束于待测物上,让第二取像单元取得待测物另一个角度的影像。
申请公布号 TWM434203 申请公布日期 2012.07.21
申请号 TW100225055 申请日期 2011.12.30
申请人 由田新技股份有限公司 发明人 张子斌;方志恒
分类号 G01N21/84;G01M11/00 主分类号 G01N21/84
代理机构 代理人
主权项
地址 新北市中和区连城路268号10楼之1 TW 10F.-1, NO. 268, LIANCHENG RD., JHONGHE DIST., NEW TAIPEI CITY 23553, TAIWAN (R. O. C.)