发明名称 可拆式测试座固定装置
摘要 一种可拆式测试座固定装置,可将一测试治具固定于一具有一开孔区的IC测试分类机下,该测试治具包括一具有一晶片容置孔的测试座。该可拆式测试座固定装置包含一固定板,及一盖板。该固定板可结合该测试治具于该IC测试分类机之底面,且包括一能供该测试座穿伸之第一开口。该盖板可盖设于该第一开口上并与该固定板组合,并包括一可与该晶片容置孔对应之第二开口。当需清洁该测试座时,藉由该盖板恰对应于该开孔区且可单独拆离该固定板,拆装容易,可缩短现场人员的操作时间,以减少测试厂因维修而停止产线所消耗的成本。
申请公布号 TWM434210 申请公布日期 2012.07.21
申请号 TW100222248 申请日期 2011.11.24
申请人 环球联通科技股份有限公司 高雄市左营区重忠路120号 发明人 高耀华
分类号 G01R1/00 主分类号 G01R1/00
代理机构 代理人 高玉骏 台北市松山区南京东路3段248号7楼;杨祺雄 台北市松山区南京东路3段248号7楼
主权项
地址 高雄市左营区重忠路120号
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