发明名称 |
可拆式测试座固定装置 |
摘要 |
一种可拆式测试座固定装置,可将一测试治具固定于一具有一开孔区的IC测试分类机下,该测试治具包括一具有一晶片容置孔的测试座。该可拆式测试座固定装置包含一固定板,及一盖板。该固定板可结合该测试治具于该IC测试分类机之底面,且包括一能供该测试座穿伸之第一开口。该盖板可盖设于该第一开口上并与该固定板组合,并包括一可与该晶片容置孔对应之第二开口。当需清洁该测试座时,藉由该盖板恰对应于该开孔区且可单独拆离该固定板,拆装容易,可缩短现场人员的操作时间,以减少测试厂因维修而停止产线所消耗的成本。 |
申请公布号 |
TWM434210 |
申请公布日期 |
2012.07.21 |
申请号 |
TW100222248 |
申请日期 |
2011.11.24 |
申请人 |
环球联通科技股份有限公司 高雄市左营区重忠路120号 |
发明人 |
高耀华 |
分类号 |
G01R1/00 |
主分类号 |
G01R1/00 |
代理机构 |
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代理人 |
高玉骏 台北市松山区南京东路3段248号7楼;杨祺雄 台北市松山区南京东路3段248号7楼 |
主权项 |
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地址 |
高雄市左营区重忠路120号 |