发明名称 | 光学式近接侦测器 | ||
摘要 | 一种光学式近接侦测器,包括一透光板、一光线阻断机构、一发光单元以及一光侦测单元。该透光板具有一第一侧面及一第二侧面,该第一侧面与该第二侧面互相平行并定义出该透光板的一厚度;该光线阻断机构设置在该第二侧面上,该光线阻断机构的宽度介于该厚度的0.35倍到2倍之间;该发光单元邻近于该第二侧面,且位于该光线阻断机构的一侧,该发光单元用以朝向该第二侧面发射一光束,该光束的有效发射角度介于15度至60度之间;而该光侦测单元邻近于该第二侧面,且位于该光线阻断机构的另一侧,该光侦测单元用以侦测具有与该光束相同波长的反射光,且该光侦测单元具有一有效侦测角度。藉此,当一物体紧邻或贴近该透光板时,该光侦测单元可侦测到该反射光的讯号强度大于该物体远离时的该反射光的讯号强度。 | ||
申请公布号 | TWM434221 | 申请公布日期 | 2012.07.21 |
申请号 | TW101201632 | 申请日期 | 2012.01.20 |
申请人 | 矽创电子股份有限公司 | 发明人 | 张维中 |
分类号 | G02B7/00 | 主分类号 | G02B7/00 |
代理机构 | 代理人 | 邵琼慧 台北市松山区敦化北路168号15楼 | |
主权项 | |||
地址 | 新竹县竹北市台元一街5号11楼之1 TW 11F.-1, NO. 5, TAIYUAN 1ST ST., ZHUBEI CITY, HSINCHU COUNTY 302, TAIWAN (R. O. C.) |