发明名称 点测及分选装置
摘要 一种点测及分选装置,整合知半导体后段制程中的点测及分选流程,提升晶圆处理速度,改善蓝膜收缩造成的分选错位问题,免除人工传送步骤,改善制程可靠度。
申请公布号 TWI368966 申请公布日期 2012.07.21
申请号 TW097131281 申请日期 2008.08.15
申请人 旺矽科技股份有限公司 新竹县竹北市中和街155号1-3楼 发明人 范维如;林学宏;刘永钦
分类号 H01L21/67;H01L21/66 主分类号 H01L21/67
代理机构 代理人 黄重智 新竹市四维路130号13楼之7
主权项
地址 新竹县竹北市中和街155号1-3楼