发明名称 于老化测试期间调节温度的系统及方法
摘要 本发明描述用于在老化测试期间降低温度消散之系统及方法。受测试元件各受到一体部偏压电压。可使用体部偏压电压来控制接合温度(譬如,在受测试元件处所测量出之温度)。可利用逐一元件的方式来调整施加至各受测试元件之体部偏压电压以在各元件处达成基本上相同的接合温度。
申请公布号 TWI368748 申请公布日期 2012.07.21
申请号 TW094106924 申请日期 2005.03.08
申请人 智慧投资基金有限责任公司 美国 发明人 孙诚立;贺夫曼 大卫H;奈文 约翰L
分类号 G01R31/26 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人 恽轶群 台北市松山区南京东路3段248号7楼;陈文郎 台北市松山区南京东路3段248号7楼
主权项
地址 美国