| 发明名称 | 一种用于防止封装样品被静电损伤的保护装置 | ||
| 摘要 | 本发明一种用于防止封装样品被静电损伤的保护装置，包括：包括一套盖，其中，所述套盖中心设有开孔，所述套盖两侧向下翻折形成套脚，所述套盖用于覆盖于封装基座的上表面。通过本发明一种用于防止封装样品被静电损伤的保护装置，有效地抑制被测样品中静电的产生；同时能够对在封装过程中所产生的静电安全地引出封装基板外，从而使封装中的被测样品可免于静电放电的破坏，以提高封装产品的良好率。 | ||
| 申请公布号 | CN102593106A | 申请公布日期 | 2012.07.18 |
| 申请号 | CN201210047388.1 | 申请日期 | 2012.02.28 |
| 申请人 | 上海华力微电子有限公司 | 发明人 | 尹彬锋;王炯;赵敏 |
| 分类号 | H01L23/60(2006.01)I | 主分类号 | H01L23/60(2006.01)I |
| 代理机构 | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人 | 王敏杰 |
| 主权项 | 一种用于防止封装样品被静电损伤的保护装置，包括一套盖，其特征在于，所述套盖中心设有开孔，所述套盖两侧向下翻折形成套脚，所述套盖用于覆盖于封装基座的上表面。 | ||
| 地址 | 201210 上海市浦东新区张江高科技园区高斯路568号 | ||