发明名称 | 高压器件的栅极电容模型 | ||
摘要 | 本发明公开了一种高压器件的栅极电容模型,包括BSIM模型栅极电容、栅极场板与源极端之间形成的栅源交叠电容、或栅极场板与漏极端之间形成的栅漏交叠电容。本发明在现有BSIM模型栅极电容的基础上,加入了栅极场板引入的交叠电容,从而能够有效提高高压器件模型精度、提高高压集成电路仿真精度、节约电路设计周期。 | ||
申请公布号 | CN102591998A | 申请公布日期 | 2012.07.18 |
申请号 | CN201110004409.7 | 申请日期 | 2011.01.11 |
申请人 | 上海华虹NEC电子有限公司 | 发明人 | 武洁 |
分类号 | G06F17/50(2006.01)I | 主分类号 | G06F17/50(2006.01)I |
代理机构 | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人 | 丁纪铁 |
主权项 | 一种高压器件的栅极电容模型,栅极电容模型包括BSIM模型栅极电容,其特征在于:所述栅极电容模型还包括栅极场板与源极端之间形成的栅源交叠电容、或所述栅极场板与漏极端之间形成的栅漏交叠电容。 | ||
地址 | 201206 上海市浦东新区川桥路1188号 |