发明名称 一种基于核/壳结构硅纳米线组的肖特基二极管的制备方法
摘要 本发明公开了一种基于核/壳结构硅纳米线的肖特基二极管制备方法,该方法包括:硅片清洗、背电极制备、硅纳米线制备、硅纳米线间隙填充及沉积Pt薄膜等步骤;其硅纳米线为核/壳结构,硅为核、表面氧化层为壳,在应用时无需去除表面氧化层,所制备的肖特基二极管电流传输机制为缺陷辅助隧穿机制,具有优良的整流特性,在纳米器件领域和新能源领域具有广阔的应用前景。本发明具有制备方法简单,对环境、成本要求低,高重复性,适用于大规模工业生产。
申请公布号 CN102592996A 申请公布日期 2012.07.18
申请号 CN201210054702.9 申请日期 2012.03.05
申请人 华东师范大学 发明人 王志亮;陈雪皎;朱美光;陈云;严强;张健
分类号 H01L21/329(2006.01)I 主分类号 H01L21/329(2006.01)I
代理机构 上海蓝迪专利事务所 31215 代理人 徐筱梅;张翔
主权项 一种基于核/壳结构硅纳米线组的肖特基二极管制备方法,其特征在于该方法包括以下具体步骤:(1)标准RCA清洗步骤清洗硅片,氮气吹干备用;(2)通过真空蒸镀仪在硅片一面蒸镀Al,在氮气氛围450℃下热退火5 min,形成良好的欧姆接触Al背电极;(3)用光刻胶旋涂Al背电极面,烘干;(4) 25 mmol L‑1AgNO3与浓度为40%的氢氟酸混合,形成混合溶液,其25 mmol L‑1AgNO3和浓度为40% 氢氟酸的体积比为1:1,超声使混合溶液均匀分布;将经清洗的硅片放入混合溶液中,保证光刻胶保护硅面朝下并与混合溶液充分接触,反应10~12分钟,在无光刻胶保护硅面上生长有硅纳米线,其长度 6~8 μm,然后,用大量去离子水冲洗,去除化学试剂残留;用硝酸去除沉积银;大量去离子水冲洗,去除化学试剂残留,鼓风干燥箱烘干;所生长的硅纳米线其硅为核、表面自然氧化层为壳,构成硅纳米线核/壳结构;(5) 将生长有硅纳米线的硅片置于匀胶台旋转,转速为3500 rpm,时长为20 s,保证光刻胶充分填充硅纳米线间隙,且硅纳米线尖端能暴露,烘干光刻胶;(6) 采用溅射法在硅纳米线尖端沉积Pt薄膜;将沉积好Pt薄膜的样品置于丙酮溶液中,去除硅纳米线间隙中的光刻胶和背电极保护光刻胶,用去离子水冲洗,去除残留的化学试剂和有机物,鼓风干燥箱烘干,得到基于核/壳结构硅纳米线组的肖特基二极管;其中:所述硅片为p‑Si,双面抛光,<100> 晶向,电阻率为 0.1‑10Ω·cm。
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