发明名称 | 控制外延层形成期间形态的方法 | ||
摘要 | 本发明的第一方面是提供一种在基材上选择性形成外延层的方法。此方法包含加热所述基材至低于约800℃的一温度;以及在所述外延膜形成过程中,一并使用硅烷与二氯甲硅烷作为硅源。本发明亦提供其它各式的方面。 | ||
申请公布号 | CN101496150B | 申请公布日期 | 2012.07.18 |
申请号 | CN200780028486.8 | 申请日期 | 2007.07.30 |
申请人 | 应用材料公司 | 发明人 | Y·金;A·M·兰 |
分类号 | H01L21/36(2006.01)I | 主分类号 | H01L21/36(2006.01)I |
代理机构 | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人 | 陆嘉 |
主权项 | 一种形成外延层的方法,所述方法包含:提供基材;加热所述基材至低于约800℃的温度;以及在所述基材上进行选择性外延膜形成工艺,在所述选择性外延膜形成工艺中,一并使用硅烷与二氯甲硅烷作为硅源,以便形成所述外延层;其中进行所述选择性外延膜形成工艺包含:进行沉积步骤,且在所述沉积步骤后进行蚀刻步骤;其中进行所述沉积步骤包含提供硅烷流以及二氯甲硅烷流;其中进行所述沉积步骤包含流入长达约10秒的硅烷与二氯甲硅烷。 | ||
地址 | 美国加利福尼亚州 |