发明名称 采用多窗口特征分析的高光谱图像异常检测方法
摘要 本发明提供的是一种采用多窗口特征分析的高光谱图像异常检测方法。首先确定检测窗口尺寸,包括内层窗、中层窗和外层窗;在外层窗口中运算OSP算子,消除内层窗口和中层窗口的背景干扰,有效的去除白噪声;在中层窗口进行背景像元选取;在内层窗口中运算KRX算子,对的待测像元进行异常检测;最后输出检测结果。本发明巧妙运用了三层窗口的检测模式,利用了两层局部背景像素窗,对高光谱数据先去除噪声干扰再进行异常检测。在外层窗口中利用OSP算子,消除内窗口和中层窗口中不感兴趣的信号源发出的干扰或白噪声,从而降低了虚警概率,具有较好的检测效果。用AVIRIS高光谱数据进行了仿真实验,本发明提出方法的检测性能明显地优于传统算法,降低了虚警概率,具有较好的检测效果。
申请公布号 CN102592280A 申请公布日期 2012.07.18
申请号 CN201210010904.3 申请日期 2012.01.14
申请人 哈尔滨工程大学 发明人 赵春晖;王玉磊;齐滨;王立国;尤佳
分类号 G06T7/00(2006.01)I;G06T5/00(2006.01)I 主分类号 G06T7/00(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种采用多窗口特征分析的高光谱图像异常检测方法,其特征是:(1)首先确定检测窗口尺寸,包括内层窗、中层窗和外层窗;(2)在外层窗口中运算OSP算子,消除内层窗口和中层窗口的背景干扰,有效的去除白噪声;(3)在中层窗口进行背景像元选取;(4)在内层窗口中运算KRX算子,对的待测像元进行异常检测;(5)最后输出检测结果。
地址 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区南通大街145号哈尔滨工程大学科技处知识产权办公室