发明名称 去除模拟基板上聚酰亚胺膜的方法
摘要 本发明公开了一种去除模拟基板上聚酰亚胺膜的方法,包括:步骤1、在设定的特征参数下,利用一组气体与模拟基板上聚酰亚胺膜发生第一次反应;步骤2、在设定的特征参数下,利用氧气的等离子体与所述第一次反应后的残余物发生第二次反应;所述特征参数包括高频电源功率、压力以及所述选择的气体流量。本发明选用O2 plasma与模拟基板上的PI膜进行第二次反应,不仅能完全去除PI膜残余物,而且不破坏模拟基板上的ITO层,防止ITO层龟裂产生碎片,同时还可有效去除模拟基板上的静电,防止模拟基板移动时发生破碎,从而提高了模拟基板的重复利用率,延长模拟基板使用寿命。
申请公布号 CN101556439B 申请公布日期 2012.07.18
申请号 CN200810103788.3 申请日期 2008.04.10
申请人 北京京东方光电科技有限公司 发明人 宋勇志
分类号 G03F7/36(2006.01)I;G02F1/1337(2006.01)I;G02F1/1333(2006.01)I 主分类号 G03F7/36(2006.01)I
代理机构 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人 刘芳
主权项 一种去除模拟基板上聚酰亚胺膜的方法,其特征在于,包括:步骤1、在设定的特征参数下,利用一组气体与模拟基板上聚酰亚胺膜发生第一次反应;步骤2、在设定的特征参数下,利用氧气的等离子体与所述第一次反应后的残余物发生第二次反应;所述设定的特征参数包括高频电源功率、压力以及气体流量;且所述步骤2中所述设定的特征参数中高频电源功率为800瓦至3000瓦,所述步骤2中所述设定的特征参数中压力为1100mTorr,所述步骤2中所述设定的特征参数中气体流量为3000sccm。
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