发明名称 |
去除模拟基板上聚酰亚胺膜的方法 |
摘要 |
本发明公开了一种去除模拟基板上聚酰亚胺膜的方法,包括:步骤1、在设定的特征参数下,利用一组气体与模拟基板上聚酰亚胺膜发生第一次反应;步骤2、在设定的特征参数下,利用氧气的等离子体与所述第一次反应后的残余物发生第二次反应;所述特征参数包括高频电源功率、压力以及所述选择的气体流量。本发明选用O2 plasma与模拟基板上的PI膜进行第二次反应,不仅能完全去除PI膜残余物,而且不破坏模拟基板上的ITO层,防止ITO层龟裂产生碎片,同时还可有效去除模拟基板上的静电,防止模拟基板移动时发生破碎,从而提高了模拟基板的重复利用率,延长模拟基板使用寿命。 |
申请公布号 |
CN101556439B |
申请公布日期 |
2012.07.18 |
申请号 |
CN200810103788.3 |
申请日期 |
2008.04.10 |
申请人 |
北京京东方光电科技有限公司 |
发明人 |
宋勇志 |
分类号 |
G03F7/36(2006.01)I;G02F1/1337(2006.01)I;G02F1/1333(2006.01)I |
主分类号 |
G03F7/36(2006.01)I |
代理机构 |
北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 |
代理人 |
刘芳 |
主权项 |
一种去除模拟基板上聚酰亚胺膜的方法,其特征在于,包括:步骤1、在设定的特征参数下,利用一组气体与模拟基板上聚酰亚胺膜发生第一次反应;步骤2、在设定的特征参数下,利用氧气的等离子体与所述第一次反应后的残余物发生第二次反应;所述设定的特征参数包括高频电源功率、压力以及气体流量;且所述步骤2中所述设定的特征参数中高频电源功率为800瓦至3000瓦,所述步骤2中所述设定的特征参数中压力为1100mTorr,所述步骤2中所述设定的特征参数中气体流量为3000sccm。 |
地址 |
100176 北京市经济技术开发区西环中路8号 |