发明名称 | 一种软X射线双频光栅剪切干涉系统 | ||
摘要 | 本发明提供一种软X射线双频光栅剪切干涉系统,其采用了一种双频光栅作为软X射线剪切干涉元件,利用掠入射条件下,该光栅的两组-1级衍射光束自剪切干涉,对穿过等离子体的X射线激光的波前检测。该剪切干涉仪中采用两个多层膜球面镜的成像系统,能够得到清晰的等离子体边界。本发明将剪切干涉系统成功应用于软X射线波段,利用剪切干涉系统共光程的特点,解决了马赫-曾德尔干涉仪测试系统中等光程的调节困难的问题,为利用剪切法诊断等离子体电子密度提供了关键技术。 | ||
申请公布号 | CN102590845A | 申请公布日期 | 2012.07.18 |
申请号 | CN201210022269.0 | 申请日期 | 2012.02.01 |
申请人 | 中国科学技术大学 | 发明人 | 刘正坤;邱克强;刘颖;徐向东;付绍军 |
分类号 | G01T1/00(2006.01)I | 主分类号 | G01T1/00(2006.01)I |
代理机构 | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人 | 许玉明;成金玉 |
主权项 | 一种软X射线双频光栅剪切干涉系统,其特征在于:包括第一块球面成像镜(3)、软X射线双频光栅(4)、第二块球面成像镜(5),X射线CCD相机(6)和计算机处理系统(7),其位置关系如下:第一块球面成像镜(3)与被测靶面(2)的距离等于第一块球面成像镜(3)的焦距,入射光与第一块球面成像镜(3)的角度为1.5~3.5°,入射光经过被测等离子体(1);所述的软X射线双频光栅(4)与第一块球面成像镜(3)之间的距离不限制,探针X射线在光栅表面的入射角度为82~84°之间;入射光经过软X射线双频光栅(4)衍射后,其‑1级光有两束,其夹角由软X射线双频光栅(4)的频率、入射光的角度决定;两组‑1级衍射光被第二块球面成像镜(5)反射后,入射到X射线CCD相机(6)上,第二块球面成像镜(5)与X射线CCD相机(6)之间的距离等于第二块球面成像镜(5)的焦距;X射线CCD相机(6)的输出端与所述计算机处理系统(7)的输入端相连。 | ||
地址 | 230026 安徽省合肥市包河区金寨路96号 |