纳米材料的移动目标位置的深度信息获取方法及系统

摘要

本发明公开一种纳米材料的移动目标位置的深度信息获取方法及系统。所述方法应用于纳米操作系统；所述纳米操作系统包括电子显微镜；所述纳米操作系统的操作器与所述目标位置所处平面的垂线形成夹角；所述方法包括：在深度方向上移动所述操作器；通过所述电子显微镜获取所述操作器的末端的俯视平面图像信息；监测所述操作器的末端在所述俯视平面图上的移动方向；判断所述移动方向是否发生改变，得到第一判断结果；当所述第一判断结果表示所述移动方向发生改变时，获取所述操作器的末端的第一深度方向位置信息作为所述纳米材料的移动目标位置的深度信息。采用本发明的方法及系统，能够准确获取纳米材料的移动目标位置的深度信息。

主权项

一种纳米材料的移动目标位置的深度信息获取方法，其特征在于，应用于纳米操作系统；所述纳米操作系统包括电子显微镜；所述纳米操作系统的操作器与所述目标位置所处平面的垂线形成夹角；所述方法包括：在深度方向上移动所述操作器；通过所述电子显微镜获取所述操作器的末端的俯视平面图像信息；监测所述操作器的末端在所述俯视平面图上的移动方向；判断所述移动方向是否发生改变，得到第一判断结果；当所述第一判断结果表示所述移动方向发生改变时，获取所述操作器的末端的第一深度方向位置信息作为所述纳米材料的移动目标位置的深度信息。