发明名称 用于检查诸如容器、盖子等凹入元件的设备
摘要 本发明涉及一种用于检查诸如容器、盖子(3)等的凹入元件的设备(1),以检测污染物和/或诸如材料过多和/或缺少的缺陷,该设备包括用于照亮待接受检查的凹入元件(3)的装置(4)、诸如相机(6)等的图像检测单元、光学组件(5)和用于处理通过所述图像检测单元(6)获得的图像以区别所述凹入元件(3)的所述污染物的装置,其特征在于,所述照明装置(4)包括第一光源(4′)和第二光源(4″),第一光源适于产生引导在所述凹入元件(3)的凹入表面上的漫射光照,第二光源适于产生引导在所述凹入元件(3)的外部侧向表面(3″)上的掠入射光照,并且所述光学组件(5)放置成检测由所述凹入元件(3)的凹入表面(3′)发射的光并将光传送到所述图像检测单元(6)。
申请公布号 CN102597750A 申请公布日期 2012.07.18
申请号 CN201080035136.6 申请日期 2010.07.30
申请人 伊莫拉SACMI机械合作公司 发明人 M·伯德奇;S·卡罗利
分类号 G01N21/88(2006.01)I;G01N21/90(2006.01)I 主分类号 G01N21/88(2006.01)I
代理机构 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人 茅翊忞
主权项 一种用于检查诸如容器、盖子(3)等凹入元件的设备,以检测污染物和/或诸如材料过多和/或缺少的缺陷,所述设备包括:用于照亮待接受检查的凹入元件(3)的装置(4),诸如相机(6)等的图像检测单元,光学组件(5)以及用于处理通过所述图像检测单元(6)的图像获得以区别所述凹入元件(3)的所述缺陷和/或所述污染物的装置,其特征在于,所述照明装置(4)包括第一光源(4′)和第二光源(4″),所述第一光源适于产生引导在所述凹入元件(3)的凹入表面上的漫射光照,第二光源适于产生引导在所述凹入元件(3)的外部侧向表面(3″)上的掠入射光照,以及所述光学组件(5)放置成检测由所述凹入元件(3)的凹入表面(3′)发射的光并将光传送到所述图像检测单元(6)。
地址 意大利博洛尼亚省