发明名称 一种光谱测量方法
摘要 本发明公开了一种光谱测量方法和装置,用较小的波长间隔测量被测光辐射的光谱,利用带宽函数覆盖区内的至少4个采样点,通过高次函数去卷积计算推导出测量值的带宽解调校正公式,从而较为精确地实现对各采样点的光谱测量值的去卷积解调校正,以消除或减小光谱仪带宽对于光谱测量值的展宽影响;本发明的光谱仪的测控软件中包括带宽解调程序,能够方便快速地实现对测量结果的带宽解调。本发明的光谱测量方法和装置可实现精确的带宽误差校正,大幅降低带宽带来的测量误差,可在保持较高的光谱仪灵敏度的条件下方便地实现高分辨率光谱测量。
申请公布号 CN102087142B 申请公布日期 2012.07.18
申请号 CN201010107629.8 申请日期 2010.02.02
申请人 杭州远方光电信息股份有限公司 发明人 潘建根
分类号 G01J3/30(2006.01)I;G01J1/42(2006.01)I 主分类号 G01J3/30(2006.01)I
代理机构 杭州杭诚专利事务所有限公司 33109 代理人 林宝堂
主权项 1.一种光谱测量方法,其特征在于包括以下步骤:a)光谱仪在整个测量波段内或测量波段的部分区域内,以step为波长间隔采样测量待测光辐射的光谱功率,波长间隔step与光谱仪的带宽函数B(λ,λ<sub>n</sub>)之间的关系满足带宽函数B(λ,λ<sub>n</sub>)所覆盖的[λ<sub>p</sub>,λ<sub>q</sub>]区间内包括4个或4个以上采样点;其中λ<sub>n</sub>为任一采样点的波长,λ<sub>p</sub>和λ<sub>q</sub>分别为带宽函数B(λ,λ<sub>n</sub>)所覆盖的最小波长和最大波长;b)在[λ<sub>p</sub>,λ<sub>q</sub>]区间内取m个采样点,其中m≥4,用理论真实光谱函数R(λ)拟合经过该m个采样点的理论真实光谱曲线;c)根据理论真实光谱函数R(λ)和带宽函数B(λ,λ<sub>n</sub>)推导出校正λ<sub>n</sub>点的光谱功率测量值M<sub>n</sub>的带宽误差的带宽解调校正公式,具体过程如下:第一步,根据所述[λ<sub>p</sub>,λ<sub>q</sub>]区间内的理论真实光谱函数R(λ)和带宽函数B(λ,λ<sub>n</sub>)计算λ<sub>n</sub>点的光谱功率测量值M<sub>n</sub>:<img file="FSB00000787541600011.GIF" wi="603" he="101" />第二步,根据式(1)求解出λ<sub>n</sub>点的理论真实光谱功率R<sub>n</sub>与所述m个采样点的光谱功率测量值M<sub>(1)</sub>,...,M<sub>(m)</sub>之间的解析关系:R<sub>n</sub>=g(M<sub>(1)</sub>,...,M<sub>(m)</sub>)    (2)上式即为带宽解调校正公式;d)用上述带宽解调校正公式对被测光辐射的所有或部分波长采样点的光谱功率测量值进行带宽解调校正。
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