发明名称 一种稻田表层土壤净碳储量估算方法
摘要 本发明公开了一种稻田表层土壤碳储量估算的方法,其步骤:A、确定表层土壤的基准统计厚度,计算该厚度内表层土壤质量和土壤碳储量;B、测定试验第i年时基准统计厚度内表层土壤容重、有机碳含量及2倍基准统计厚度内土壤有机碳含量,计算试验第i年时基准统计厚度内土壤质量和土壤碳储量;C、根据质量守恒原理,计算试验i年前后基准统计厚度内表层土壤质量的差值;D、通过表层土壤质量差值和容重变化情况来确定碳储量校正方法;E、根据公式计算试验第i年时等质量表层土壤的碳储量值及表层土壤净碳储量值。方法易行,操作简便,通过质量守恒原理对质量变化的表层土壤碳储量进行校正,达到提高表层土壤净碳储量估算精度。
申请公布号 CN102590007A 申请公布日期 2012.07.18
申请号 CN201210044331.6 申请日期 2012.02.24
申请人 中国科学院亚热带农业生态研究所 发明人 陈安磊;谢小立;魏文学;陈春兰;朱捍华
分类号 G01N5/00(2006.01)I 主分类号 G01N5/00(2006.01)I
代理机构 武汉宇晨专利事务所 42001 代理人 王敏锋
主权项 一种稻田表层土壤碳储量估算的方法,其步骤是:A、以试验开始时稻田表层土壤厚度作为基准统计厚度H0,测定试验开始时该厚度H0内的土壤容重(BD0)、土壤有机碳含量(conc0)和试验第i年时该该厚度H0内的土壤容重(BDi)和有机碳含量(conci),同时在试验第i年时测量基准统计厚度H0~2倍基准统计厚度H0厚度内土壤有机碳含量(concib);B、根据公式Ci,FD=conci×Mi×10‑3和公式Mi= BDi×H0×104计算第i年基准统计厚度H0内土壤的碳储量(Ci,FD),根据公式C0,FD=conc0×M0×10‑3和公式M0=BD0×H0×104计算试验开始时基准统计厚度H0内土壤的碳储量(C0,FD);式中Mi和M0分别是第i年和试验开始时基准统计厚度H0内的土壤质量(thm‑2),Ci,FD和C0,FD分别是第i年和试验开始时该厚度内的土壤碳储量(t hm‑2),conci和conc0是第i年和试验开始时该厚度内土壤有机碳含量(kg t‑1),BDi和BD0是第i年和试验开始时该厚度内的土壤容重(t m‑3),10‑3和104是单位转化系数;C、依据质量守恒原理,根据公式Mi,change=M0‑Mi计算试验第i年与试验开始时基准统计厚度H0内的土壤质量差值;D、根据土壤质量差值(Mi,change)的计算结果确定表层土壤碳储量的校正方法,本实施例中土壤容重降低,即土壤质量Mi,change>0,即在试验第i年时基准统计厚度H0内的土壤质量降低的情况下,表层土壤碳储量校正值为Ci,change,计算公式为Ci,change=concib×Mi,change×10‑3;E、根据公式Ci,equiv=Ci,FD+Ci,change计算等质量的表层土壤试验第i年时的碳储量;根据公式Ci,equiv=Ci,FD+Ci,change‑C0,FD,计算表层土壤试验第i年时净碳储量值;其中:Ci,equiv为表层土壤净碳储量值,Ci,FD为实验第i年时H0厚度内土壤碳储量值,Ci,change为第i年时表层土壤碳储量校正值,C0,FD为试验开始时基准统计厚度(H0)内土壤碳储量值。
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