发明名称 一种阻变存储器的制备方法
摘要 本发明公开了一种阻变存储器的制备方法,其包括如下步骤:在衬底上制备底电极;然后采用干氧氧化或湿氧氧化对底电极金属进行部分氧化,形成厚度为3nm-50nm的金属氧化物,作为阻变材料层;最后在上述阻变材料层上制备顶电极。本发明避免了传统方法中淀积阻变材料层的步骤,大幅降低了工艺复杂度。同时可以实现阻变材料层与底电极的自对准。保证器件之间的完全隔离。避免了传统工艺方法产生的众多寄生效应。同时保证了器件的实际面积与设计面积一致。
申请公布号 CN102593352A 申请公布日期 2012.07.18
申请号 CN201210041447.4 申请日期 2012.02.21
申请人 北京大学 发明人 黄如;谭胜虎;张丽杰;潘岳;黄英龙;杨庚宇;唐昱;毛俊;蔡一茂
分类号 H01L45/00(2006.01)I 主分类号 H01L45/00(2006.01)I
代理机构 北京万象新悦知识产权代理事务所(普通合伙) 11360 代理人 贾晓玲
主权项 一种阻变存储器的制备方法,其包括如下步骤:1)在衬底上制备底电极。2)采用干氧氧化或湿氧氧化对底电极金属进行部分氧化,形成厚度为3nm‑50nm的金属氧化物,所述金属氧化物层作为阻变材料层;3)在上述阻变材料层上制备顶电极。
地址 100871 北京市海淀区颐和园路5号
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