发明名称 |
具有可控制测试存取至阵列区之内部类比信号垫之积体电路 |
摘要 |
一种积体电路晶粒包含一信号垫,该信号垫系配置于远离该晶粒周边之位置、一接近该晶粒周边之周边信号垫,及一耦合于该内部信垫及周边信号垫间之开关。该开关可配置为至少一第一状态,其中该内部信号垫不能以操作方式连接该周边信号垫,及一第二状态,其中该内部信号垫可以操作方式连接至该周边信号垫,以反应一分别具有第一及第二信号特征其中一者之控制信号。该开关在该积体电路晶粒正常操作期间系被配置为第一状态,且在该第二状态中,容许透过该周边信号垫以测试存取该内部信号垫。 |
申请公布号 |
TWI368287 |
申请公布日期 |
2012.07.11 |
申请号 |
TW093118589 |
申请日期 |
2004.06.25 |
申请人 |
艾基尔系统公司 美国 |
发明人 |
夏都斯 约翰 嘉巴拉;卡洛 安 胡柏;伯那德 李 莫里斯 |
分类号 |
H01L21/66 |
主分类号 |
H01L21/66 |
代理机构 |
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代理人 |
陈长文 台北市松山区敦化北路201号7楼 |
主权项 |
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地址 |
美国 |