发明名称 |
用以封装微机电系统装置之晶圆级治具及方法 |
摘要 |
一种治具包含一基材、一第一材料层、一绝缘层及一第二材料层。该基材具有一表面,并定义有至少一单元,其包含一凹口位于该表面上。该第一材料层系配置于位在该基材之表面与该凹口上。该绝缘层系配置于部分该第一材料层上,并裸露出位在该凹口上之该第一材料层。该第二材料层系配置于在该凹口上之该第一材料层上,并形成有至少一帽盖,其用以接合于微机电系统装置,并使该微机电系统装置对应该基材上之单元,其中该第一与该第二材料层之间具有第一接合力,该帽盖与该微机电系统装置之间具有第二接合力,且该第二接合力系大于该第一接合力。 |
申请公布号 |
TWI368280 |
申请公布日期 |
2012.07.11 |
申请号 |
TW096120677 |
申请日期 |
2007.06.08 |
申请人 |
日月光半导体制造股份有限公司 高雄市楠梓加工出口区经三路26号 |
发明人 |
杨学安 |
分类号 |
H01L21/52;H01L21/50;H01L21/00 |
主分类号 |
H01L21/52 |
代理机构 |
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代理人 |
花瑞铭 高雄市前镇区中山二路7号14楼之1 |
主权项 |
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地址 |
高雄市楠梓加工出口区经三路26号 |