发明名称 用以封装微机电系统装置之晶圆级治具及方法
摘要 一种治具包含一基材、一第一材料层、一绝缘层及一第二材料层。该基材具有一表面,并定义有至少一单元,其包含一凹口位于该表面上。该第一材料层系配置于位在该基材之表面与该凹口上。该绝缘层系配置于部分该第一材料层上,并裸露出位在该凹口上之该第一材料层。该第二材料层系配置于在该凹口上之该第一材料层上,并形成有至少一帽盖,其用以接合于微机电系统装置,并使该微机电系统装置对应该基材上之单元,其中该第一与该第二材料层之间具有第一接合力,该帽盖与该微机电系统装置之间具有第二接合力,且该第二接合力系大于该第一接合力。
申请公布号 TWI368280 申请公布日期 2012.07.11
申请号 TW096120677 申请日期 2007.06.08
申请人 日月光半导体制造股份有限公司 高雄市楠梓加工出口区经三路26号 发明人 杨学安
分类号 H01L21/52;H01L21/50;H01L21/00 主分类号 H01L21/52
代理机构 代理人 花瑞铭 高雄市前镇区中山二路7号14楼之1
主权项
地址 高雄市楠梓加工出口区经三路26号