| 摘要 |
本发明的课题为提供一种产生装置等，就包含于全扫描循序电路之扫描单元的输出，进行在扫描撷取的前后发生的逻辑值的不同被减少之测试向量集合的产生。;本发明的解决手段为一种产生装置200，系产生对逻辑电路之初始测试向量集合216，包含：;对象测试向量指定部204，就前述初始测试向量集合216的各测试向量之中，包含于前述循序电路之扫描单元的输出，针对在扫描撷取的前后逻辑值发生不同之位元的数目(转变位元数)，指定应满足规定的基准而选择之测试向量；以及;测试向量集合变换部206，对前述对象测试向量指定部204所指定之应被选择的测试向量，就包含于前述循序电路之扫描单元的输出，使转变位元数减少而变换。 |
