发明名称 |
测试系统及其放电装置 |
摘要 |
本发明是关于一种测试系统及其放电装置。其中的测试系统包含:至少一电源供应模块、测试机台以及放电装置。电源供应模块用以供应电源至待测元件。测试机台用以与待测元件相连接,以对待测元件进行多个上电测试程序。放电装置包含:至少一第一定电流放电单元、至少一第二定电流放电单元以及控制模块。第一定电流放电单元对应设置于测试机台中。第二定电流放电单元设置于电源供应模块中。控制模块控制第一及第二定电流放电单元在上电测试程序任一者完成时,分别自待测元件以及自电源供应模块汲取定电流进行放电过程。本发明提供的技术方案实现了快速放电,缩减了测试流程耗时,非常适于实用。 |
申请公布号 |
CN102565561A |
申请公布日期 |
2012.07.11 |
申请号 |
CN201010617656.X |
申请日期 |
2010.12.27 |
申请人 |
德律科技股份有限公司 |
发明人 |
萧教成;陈家铭 |
分类号 |
G01R31/00(2006.01)I;G01R1/28(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 |
代理人 |
寿宁;张华辉 |
主权项 |
一种放电装置,应用于一测试系统中,其特征在于包含:至少一定电流放电单元,对应设置于该测试系统的至少一电源供应模块或一测试机台中;以及一控制模块,控制该定电流放电单元在该测试系统对一待测元件进行的多个上电测试程序任一者完成时,自该电源供应模块或通过该测试机台自该待测元件汲取一定电流进行一放电过程。 |
地址 |
中国台湾台北市士林区德行西路45号7楼 |