| 发明名称 | 用于执行TD-SCDMA测量的TDD-LTE测量间隙 | ||
| 摘要 | 本公开内容的某些方面提出了增强用于TD-SCDMA测量的测量间隙的技术。某些方面提供了一种方法，该方法大体上包括：接收来自应用第一无线接入技术(RAT)的基站(BS)的消息，该消息指示测量间隙，在测量间隙中用户设备(UE)在第二RAT中进行测量，该消息包括对测量间隙的起始位置和测量间隙的持续时间的指示；以及在测量间隙期间进行测量。 | ||
| 申请公布号 | CN102572734A | 申请公布日期 | 2012.07.11 |
| 申请号 | CN201110097009.5 | 申请日期 | 2011.02.21 |
| 申请人 | 高通股份有限公司 | 发明人 | 金汤;石光明;李国钧 |
| 分类号 | H04W4/12(2009.01)I;H04W24/00(2009.01)I;H04W72/04(2009.01)I | 主分类号 | H04W4/12(2009.01)I |
| 代理机构 | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人 | 张立达;王英 |
| 主权项 | 一种用于无线通信的方法，包括以下步骤：接收来自应用第一无线接入技术(RAT)的基站(BS)的消息，所述消息指示测量间隙，在所述测量间隙中用户设备(UE)在第二RAT中进行测量，所述消息包括对所述测量间隙的起始位置和所述测量间隙的持续时间的指示；以及在所述测量间隙期间进行测量。 | ||
| 地址 | 美国加利福尼亚 | ||